当前位置:网站首页产品展示 > > > 硅片厚度传感器(SIT-200)
硅片厚度传感器(SIT-200)

硅片厚度传感器(SIT-200)

简要描述:硅片厚度传感器(SIT-200)中与宽带光源不同,SIT-200使用高速扫描可调谐激光器探测被测晶圆。这使得每波长的功率测量更高,从而产生更高的动态范围。

产品型号:

所属分类:

更新时间:2021-03-25

详细说明:

      硅片厚度传感器(SIT-200)中与宽带光源不同,SIT-200使用高速扫描可调谐激光器探测被测晶圆。这使得每波长的功率测量更高,从而产生更高的动态范围。结果,例如在湿蚀刻期间/之后,甚至可以在未抛光的晶圆上执行厚度测量。

      硅片厚度传感器(SIT-200)的主要特点有:

      一、硅片用全光非接触式厚度传感器
      二、能够测量无序表面的高动态范围
      三、能够在湿法腐蚀过程中进行原位测量
      在生活中其常常应用于硅片厚度测量

    硅片厚度传感器(SIT-200)的主要特点有:

      一、硅片用全光非接触式厚度传感器
      二、能够测量无序表面的高动态范围
      三、能够在湿法腐蚀过程中进行原位测量


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

在线咨询
咨询热线

18515635158

[关闭]